Δευτέρα 13 Φεβρουαρίου 2017

In Situ Patterning of Ultrasharp Dopant Profiles in Silicon

TOC Graphic

ACS Nano
DOI: 10.1021/acsnano.6b07359
ancac3?d=yIl2AUoC8zA


from #AlexandrosSfakianakis via Alexandros G.Sfakianakis on Inoreader http://ift.tt/2l9xoab
via IFTTT

Δεν υπάρχουν σχόλια:

Δημοσίευση σχολίου

Δημοφιλείς αναρτήσεις